摘要:
在一些测试生成算法中,通过数/模和模/数转换器将模拟系统转换为离散数字系统,使得测试生成和响应分析在数字信号领域进行。提出了一种基于支持向量机(support vector machine, SVM)的模拟测试生成算法,通过SVM解决采样空间的线性分类问题,生成的测试序列可直接作为激励信号作用于被测系统,通过输出响应即可判断是否故障。为了减少计算代价,采用一种非等间距方法压缩脉冲响应采样向量,在降低采样空间维度的同时保证了测试生成的有效性。
龙婷, 王厚军, 龙兵. 基于SVM的模拟测试生成的改进算法[J]. Journal of Systems Engineering and Electronics, 2011, 33(6): 1425-1428.
LONG Ting, WANG Hou-jun, LONG Bing. Improved analogue test generation algorithm based on SVM[J]. Journal of Systems Engineering and Electronics, 2011, 33(6): 1425-1428.