摘要:
为解决二元退化产品可靠性建模困难,提出了基于马氏距离(Mahalanobis distance,MD)的二元退化产品可靠性分析方法。首先引入MD,将二元退化数据降维至一元MD,并采用蒙特卡罗方法确定MD失效阈值;然后分别采用了Wiener过程的基本模型和3个具有随机参数的Wiener过程模型进行退化建模,运用贝叶斯方法进行参数估计,并通过模型验证、分位数图(quantile-quantile plot,QQ图)和改进的留一法交叉验证等模型选择方法综合判断确定最优模型。最后采用裂纹增长数据实例验证了所提方法的有效性。
盖炳良, 滕克难, 唐金国, 王浩伟, 孙媛. 基于马氏距离的二元退化可靠性分析[J]. 系统工程与电子技术, 2019, 41(3): 686-692.
GAI Bingliang, TENG Kenan, TANG Jinguo, WANG Haowei, SUN Yuan. Reliability analysis for bivariate degradation process based on Mahalanobis distance[J]. Systems Engineering and Electronics, 2019, 41(3): 686-692.