摘要:
为解决自动测试系统的探针寿命及测试可靠性问题,提出一种针对数字电路的非接触式测试方法。利用平板天线及电荷放大器对节点近场辐射进行探测,通过边沿判别的方法恢复原始数字信号。讨论了天线模型、节点间串扰、判决门限选取等问题。给出了硬件实现方案,通过实验验证了该方法的有效性并测试其性能。
谢楷,王鹰,李小平,刘彦明. 基于近场辐射的非接触式数字信号测试方法[J]. Journal of Systems Engineering and Electronics, 2010, 32(8): 1604-1607.
XIE Kai,WANG Ying,LI Xiao-ping,LIU Yan-ming. Non-contact digital signal testing method based on near-field radiation[J]. Journal of Systems Engineering and Electronics, 2010, 32(8): 1604-1607.