基于后验风险确定故障样本量的Bayes方法
周奎, 孙世岩, 严平
Bayes method for determining fault sample size based on posterior risk
ZHOU Kui, SUN Shiyan, YAN Ping
系统工程与电子技术 . 2019, (7): 1672 -1676 .  DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.07.32

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