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Bayes序贯试验方法中风险的选择与计算
刘琦, 冯文哲, 王囡
Selection and calculation of risks in Bayes sequential test method
LIU Qi, FENG Wen-zhe, WANG Nan
Journal of Systems Engineering and Electronics . 2013, (
1
): 223 -229 . DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2013.01.38