基于两阶段维纳退化过程的液力耦合器可靠性评估
鄢伟安， 宋保维， 段桂林， 师义民
Reliability evaluation of LCD based on two-phase#br#
Wiener degradation process
YAN Wei-an， SONG Bao-wei， DUAN Gui-lin， SHI Yi-min
系统工程与电子技术
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2014, (9): 1882
-1886
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DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2014.09.34
