摘要:
针对装备所需进行的可靠性试验类型与应力水平等进行设计规划的理论较为匮乏的现状,提出了一种基于潜在缺陷暴露增益的可靠性试验设计规划模型。首先分析了可靠性试验环境因素及试验目的,定义了潜在缺陷暴露增益;然后从试验的全面程度和严酷程度出发,构建了各环境因素下试验费用函数模型和可靠度提升模型,在试验费用存在约束的条件下,以试〖JP2〗验的潜在缺陷暴露增益最大和可靠度提升最高为目标函数构建了多目标非线性规划模型,并给出了该模型的求解方法。最后以某“报信者”系统为例,得出满足约束的最优试验方案,验证了模型的有效性与可行性。
邵恒, 方志耕, 张秦, 刘思峰. 基于潜在缺陷暴露增益的可靠性试验设计规划模型[J]. 系统工程与电子技术, 2018, 40(5): 1175-1182.
SHAO Heng, FANG Zhigeng, ZHANG Qin, LIU Sifeng. Reliability test design planning model based on potential defect exposure gain[J]. Systems Engineering and Electronics, 2018, 40(5): 1175-1182.