考虑关键故障的测试优化选择
叶文, 吕鑫燚, 吕晓峰, 马羚
Optimized test selection method considering critical faults
YE Wen, LV Xinyi, LV Xiaofeng, MA Ling
系统工程与电子技术 . 2019, (7): 1583 -1589 .  DOI: 10.3969/j.issn.1001-506X.2019.07.20

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